LCR測試儀（LCR）與阻抗分析儀（Impedence Meters）

阻抗(electrical impedance)是電路中電阻、電感、電容對交流電的阻礙作用的統稱。阻抗衡量流動于電路的交流電所遇到的阻礙。阻抗將電阻的概念加以延伸至交流電路領域。

LCR 測試儀和阻抗分析儀被設計用于測試電子元件在某些頻率或寬頻率范圍內的阻抗。如果阻抗不符合規(guī)格，則這些電子元件將不能正常工作。

測量原理

日置HIOKI的LCR 測試儀和阻抗分析儀使用自動平衡電橋法（ABB） 和 射頻電流-電壓法（RF I-V） 兩種方法測量阻抗。

使用自動平衡電橋法的LCR測試儀或阻抗分析儀可以在較寬的頻率范圍內（1MHz~100MHz）測量較大的阻抗，適用于低頻、通用測試，但尚不足以進行高頻測試。

而使用射頻電流-電壓法的儀器通常提供較高的精度(約1%左右)，并可以在高頻下測試較大的阻抗。

LCR和阻抗測試儀的差別

LCR 測試儀和阻抗分析儀可以使用以上兩種方法測量阻抗， 這兩種產品之間的差別更多的是功能和顯示：

LCR 測試儀     通常采用單一頻率進行測量并提供數值。

阻抗分析儀      阻抗分析儀可以不斷地切換頻率進行測量，并提供頻率特性圖，也可以執(zhí)行等效電路分析。

隨著信號電感器和功率電感器在智能手機、平板電腦和汽車方面的使用持續(xù)增長，最近日置HIOKI更加重視開發(fā)阻抗分析儀。為了滿足制造商對高速、高穩(wěn)定性測量能力的需求。日置HIOKI設計出尺寸緊湊，寬頻率范圍，較高的性價比的產品，使大家可以輕松地利用我們的產品擴大他們現有的生產線。

推薦產品

LCR測試儀IM3536

DC，4Hz~8MHz測量頻率

● 測量頻率DC，4Hz~8MHz

● 測量時間：最快1ms

● 基本精度：±0.05% rdg

● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量

● 可內部發(fā)生DC偏壓測量

● 從研發(fā)到生產線活躍在各種領域中

阻抗分析儀IM3570

1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查

● 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查

● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量

● 基本精度±0.08%的高精度測量

● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量

● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

● 可以用于無線充電評價系統TS2400

阻抗分析儀IM7587

可信賴的機型3GHz

● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz

● 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）

● 測量值偏差：0.07%（用3GHz測量線圈1nH時）

● 基本精度：±0.65% rdg.

● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小

● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）

● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量

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