進(jìn)行預(yù)兼容測(cè)試具有非常重要的意義，您不僅可以確保EMI測(cè)試設(shè)備獲得測(cè)試機(jī)構(gòu)的一致性認(rèn)證，還可以保證產(chǎn)品開(kāi)發(fā)按時(shí)完成。

一旦您設(shè)計(jì)完電子產(chǎn)品，就該把它推向市場(chǎng)了，對(duì)嗎？沒(méi)錯(cuò)，但并不確切。因?yàn)閷?duì)于任何產(chǎn)品開(kāi)發(fā)，您都需要首先對(duì)設(shè)計(jì)的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證其性能是否達(dá)到預(yù)期。所有電子設(shè)備最終都必須通過(guò)一個(gè)重要測(cè)試 — EMI（電磁干擾）全兼容測(cè)試。按照EMI測(cè)試設(shè)備測(cè)試所依據(jù)的相應(yīng)監(jiān)管機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)的定義，通過(guò) EMI測(cè)試，即證明您的設(shè)備的電磁輻射性能處于可接受的范圍內(nèi)。

EMC測(cè)試是什么?

電磁兼容性測(cè)試（Electro Magnetic Compatibility - EMC測(cè)試），是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。

EMC測(cè)試包括測(cè)試方法、測(cè)量?jī)x器和試驗(yàn)場(chǎng)所，測(cè)試方法以各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測(cè)量?jī)x器以頻域?yàn)榛A(chǔ)，試驗(yàn)場(chǎng)地是進(jìn)行EMC測(cè)試的先決條件，也是衡量EMC工作水平的重要因素。EMC檢測(cè)受場(chǎng)地的影響很大，尤其以電磁輻射發(fā)射、輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格。

EMI（電磁干擾）屬于EMC（電磁兼容）這一術(shù)語(yǔ)的范疇。在執(zhí)行預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，您會(huì)關(guān)注 EMI測(cè)試。這是一種來(lái)自EMI測(cè)試設(shè)備的實(shí)際現(xiàn)象，又稱(chēng)為輻射。

想要獲得 EMI全兼容測(cè)試的認(rèn)證，成本是相當(dāng)昂貴的 — 萬(wàn)一未能通過(guò) —您不僅需要重新進(jìn)行設(shè)計(jì)，還會(huì)打亂您的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間表，耗費(fèi)大量資金。

圖 1：典型的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期以及EMC測(cè)試的階段

如果能夠自行進(jìn)行 EMI測(cè)試，那么您在將EMI測(cè)試設(shè)備送到測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行認(rèn)證時(shí)，就有望盡快通過(guò)測(cè)試。

EMI預(yù)兼容測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)

EMC測(cè)試是電氣設(shè)備與其電磁環(huán)境和其他設(shè)備的相互作用。所有的電子設(shè)備都有可能發(fā)射電磁場(chǎng)，因此識(shí)別您的設(shè)備是否處于恰當(dāng)?shù)妮椛渌椒浅Ｖ匾?，全兼容測(cè)試是確保電子設(shè)備符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的最后一項(xiàng)測(cè)試。預(yù)兼容測(cè)試可以看作是全兼容測(cè)試的預(yù)演。您在預(yù)兼容測(cè)試過(guò)程中所做的一切工作，可以確保您在步入 EMC測(cè)試的最后階段，在將設(shè)備送至認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行全兼容測(cè)試時(shí)，可以順利通過(guò)。您可以與這些測(cè)試機(jī)構(gòu)使用相同的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試您的設(shè)備，不過(guò)方便之處在于您是在自己的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試。

所有產(chǎn)品，從筆記本電腦到智能手機(jī)，都必須通過(guò)認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)的全兼容測(cè)試。這些測(cè)試機(jī)構(gòu)會(huì)執(zhí)行各種測(cè)試，查看EMI測(cè)試設(shè)備是否符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。取決于設(shè)備的產(chǎn)品類(lèi)別，通常會(huì)針對(duì)特定的產(chǎn)品分類(lèi)選擇一個(gè)子集。在本文中，我們將討論 4 個(gè)測(cè)試，特別是可以分為兩類(lèi) — 發(fā)射測(cè)試和抗擾度測(cè)試，并且在每個(gè)類(lèi)別中都有輻射和傳導(dǎo)測(cè)試。

輻射測(cè)試表征電子設(shè)備無(wú)意中通過(guò)非物理介質(zhì)（空中測(cè)試）發(fā)出的電磁能量。

傳導(dǎo)測(cè)試表征電子設(shè)備無(wú)意中通過(guò)傳導(dǎo)性材料或物理介質(zhì)（有線測(cè)試）發(fā)出的電磁能量。

圖 2：四種類(lèi)型的EMC測(cè)試

發(fā)射測(cè)試

發(fā)射測(cè)試考量的是您的設(shè)備發(fā)出的電磁能量大小。

輻射發(fā)射測(cè)試需要對(duì)設(shè)備發(fā)射到空中的電磁能量進(jìn)行測(cè)試，并確保它們符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。輻射發(fā)射測(cè)試需要尋找被測(cè)設(shè)備通過(guò)空中發(fā)射的信號(hào)。在全兼容測(cè)試過(guò)程中，設(shè)備的輻射發(fā)射是導(dǎo)致測(cè)試失敗的最常見(jiàn)原因，因此必須花費(fèi)更長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)行測(cè)量。

傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試需要測(cè)試您的設(shè)備中由于電氣活動(dòng)所造成的電磁干擾，這些電氣活動(dòng)在器件外部沿著互連電纜進(jìn)行傳導(dǎo) — 例如電源線、信號(hào)電纜或數(shù)據(jù)電纜。特別是，傳導(dǎo)的干擾可能直接與其他的電子設(shè)備或同一設(shè)備的其他元件發(fā)生耦合。傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試主要針對(duì)設(shè)備的交流電源所發(fā)出的多余信號(hào)，這些電源可能包括但不限于開(kāi)關(guān)、調(diào)節(jié)器和低頻時(shí)鐘。

發(fā)射測(cè)試非常重要，因?yàn)槟幌ＭO(shè)備受到相鄰設(shè)備的意外干擾。

抗擾度測(cè)試

抗擾度測(cè)試衡量您的設(shè)備對(duì)相鄰設(shè)備發(fā)射的電磁能量的敏感程度。

輻射抗擾度測(cè)試需要測(cè)試您的設(shè)備對(duì)周?chē)渌O(shè)備空中發(fā)射的敏感性。

傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試需要測(cè)試您的設(shè)備對(duì)其他相鄰設(shè)備通過(guò)電纜發(fā)射的電磁能量的敏感性。

抗擾度測(cè)試非常重要，因?yàn)槟幌Ｍ约旱脑O(shè)備受到相鄰設(shè)備的影響。EMC 還包括一些其他的抗擾度測(cè)試，但在本文中并未進(jìn)行討論，包括電源線浪涌和質(zhì)量、靜電放電（ESD）、工作磁性等。

EMC全兼容測(cè)試流程和監(jiān)管標(biāo)準(zhǔn)

EMC測(cè)試必須符合標(biāo)準(zhǔn)要求。這些標(biāo)準(zhǔn)可以幫助測(cè)試進(jìn)行調(diào)整，實(shí)現(xiàn)統(tǒng)一的產(chǎn)品性能。CISPR 標(biāo)準(zhǔn)便是其中之一。需要注意的一點(diǎn)是，CISPR 是本文檔中所討論的發(fā)射測(cè)試的基礎(chǔ)，但其并不能代表所有的 EMC監(jiān)管標(biāo)準(zhǔn)。CISPR 的工作只涉及到用于測(cè)量干擾的設(shè)備和方法。此外，CISPR 還根據(jù)電子設(shè)備將要銷(xiāo)往的行業(yè)和國(guó)家/地區(qū)，確定電子設(shè)備的必要限制條件。

全兼容測(cè)試是一個(gè)受到各地嚴(yán)格監(jiān)管的正式流程，因此最好通過(guò)預(yù)兼容測(cè)試樹(shù)立信心，確保您的設(shè)備可以通過(guò)全兼容測(cè)試。

發(fā)射規(guī)范概述

表 1：監(jiān)管機(jī)構(gòu)要求對(duì)比

EMC測(cè)試流程和故障診斷

要想精確地執(zhí)行 EMC輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射預(yù)兼容測(cè)量，您需要根據(jù)測(cè)試類(lèi)型選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備。要想進(jìn)行預(yù)兼容輻射發(fā)射測(cè)試，您將需要：

1. 配有 EMC軟件的信號(hào)分析儀

2. 經(jīng)校準(zhǔn)的 EMI天線

圖 3：分析儀配有 EMC軟件和經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的 EMI天線，在輻射發(fā)射測(cè)試過(guò)程中使用

輻射測(cè)試最好是在足夠大的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行，遠(yuǎn)離其他電子設(shè)備，以避免電磁干擾。理想情況下，您的設(shè)備最好放置在離天線至少 3 米遠(yuǎn)的地方。天線和信號(hào)分析儀相連時(shí)，也應(yīng)該至少保持 3 米的距離。

某些信號(hào)分析儀配有可選的內(nèi)置應(yīng)用軟件，讓測(cè)試變得快速而輕松。利用符合 CISPR 和 MIL-STD 標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)置帶寬、檢波器和頻段預(yù)設(shè)置，加上自動(dòng)測(cè)試和監(jiān)管限制，您可以快速判斷出設(shè)備是否符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)。

想要進(jìn)行預(yù)兼容傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試，您將需要下列設(shè)備：

1. 配有 EMC軟件的信號(hào)分析儀

2. 瞬態(tài)限幅器

3. 線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）

圖 4：在執(zhí)行傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試時(shí)使用的瞬態(tài)限幅器和線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）。

如果您已確定EMI測(cè)試設(shè)備存在發(fā)射問(wèn)題，那么接下來(lái)您就要確定問(wèn)題的來(lái)源。這個(gè)問(wèn)題正是近場(chǎng)探頭的用武之地。

圖 5：要想對(duì)器件的發(fā)射進(jìn)行精確的故障診斷，需要使用近場(chǎng)探頭。

一般故障診斷的目標(biāo)是確定測(cè)量結(jié)果中的相對(duì)變化，并確定發(fā)射的來(lái)源。

結(jié)論

通過(guò)了解這些信息，您已基本理解了 EMI預(yù)兼容測(cè)試是什么，執(zhí)行您的 EMC測(cè)試需要哪些設(shè)備。正如之前所提到的那樣，進(jìn)行預(yù)兼容測(cè)試非常重要，因?yàn)槟粌H可以確保EMI測(cè)試設(shè)備獲得測(cè)試機(jī)構(gòu)的全兼容認(rèn)證，還可以保證產(chǎn)品開(kāi)發(fā)按期完成。

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