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ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片電阻測試特征？

更新時間：2023-12-06      瀏覽次數(shù)：678

AE-162E 用于超高速芯片電阻測試

非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、

徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機。

兼容極小芯片（低功耗測量）

超高速0.7msec.（典型值）

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性

通過每個量程的測量值積分時間設置功能，實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。

%測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查：測量前/測量后/關閉可選

RS-232C接口標準設備（GP-IB可選）

打印機輸出標準設備（Centronics兼容）

標準設置值傳輸功能：（相同的設置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進行自動設置。）

標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路

兼容極小芯片（低功耗測量）

超高速0.7msec.（典型值）

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性

通過每個量程的測量值積分時間設置功能，實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。

%測量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量：0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查：測量前/測量后/關閉可選

RS-232C接口標準設備（GP-IB可選）

打印機輸出標準設備（Centronics兼容）

標準設置值傳輸功能：（相同的設置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162E以進行自動設置。）

標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路


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