在线观看特色大片免费视频,亚洲天堂成人在线一区 ,欧美日韩国产精品1卡,亚洲色无码国产精品网站可下载 ,美日韩美女操逼视频,国产精品久久人妻无码波多野结衣 ,国精产品一区二区三区四区糖心 ,国产午夜福利在线观看红一片 ,日本一区二区三区免费播放视频站 ,精品人伦一区二区三区蜜桃免费

products

產品分類

技術文章/ article

您的位置：首頁  -  技術文章  -  filmetrics近紅外光來測量薄膜厚度F3-sX 系列

filmetrics近紅外光來測量薄膜厚度F3-sX 系列

更新時間：2024-04-13      瀏覽次數：680

F3-sX 系列

F3-sX 系列能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳


波長選配

F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度，即使有許多肉眼看來不透光(例如半導體)。 F3-s980 是波長為980奈米的版本，是為了針對成本敏銳的應用而設計,F3-s1310是針對重摻雜硅片的最佳化設計,F3-s1550則是為了最厚的薄膜設計。

附件

附件包含自動化測繪平臺，一個影像鏡頭可看到量測點的位置以及可選配可見光波長的功能使厚度測量能力最薄至15奈米。

包含的內容：

集成光譜儀/光源裝置

光斑尺寸10微米的單點測量平臺

FILMeasure 8反射率測量軟件

Si 參考材料

FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數據分析)

image.png

版權所有©2026 深圳九州工業品有限公司 All Rights Reserved   備案號：粵ICP備2023038974號   sitemap.xml技術支持：化工儀器網   管理登陸