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日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

更新時間：2024-08-24      瀏覽次數(shù)：750

日本mitakakohki半導體非接觸式三維測量裝置NH-3SPs的介紹

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可處理大型工件的

非接觸式3D測量裝置

NH系列實現(xiàn)了高精度和易用性，

解決了過去的測量問題。


?可在不損壞測量對象的情況下進行測量

?擅長測量陡峭的斜坡和大的凹凸不平

?直接測量鏡面和透鏡等透明物體

特征

1.非接觸式測量可防止探頭磨損

由于不存在非接觸式探頭磨損等連續(xù)變化，因此日常維護也更加容易。

2.可觀察測量點

始終可以觀察到測量點和工件表面的激光光斑。圖像處理可實現(xiàn)邊緣檢測和圓測量。

3.高精度、高剛性XY平臺

NH系列XY平臺基于“高精度識別=堅固機構"的理念，經(jīng)過精心加工和一一檢驗，實現(xiàn)高精度運行平行度。

4.出色的角度跟蹤

高靈敏度自動對焦傳感器可捕獲表面的輕微反射光。能夠直接精確測量陡坡和臺階。


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