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產品分類大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜測厚儀SM-100S / SM-100P,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
更新時間:2026-06-10大塚SM-100光學干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
更新時間:2026-06-10Yamato Scientific 膜厚計 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
更新時間:2026-06-10Otsuka Yamato智能膜厚計SM-100P Pro測厚儀,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗證不同工藝參數下的薄膜厚度。
更新時間:2026-06-10