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產品型號：SEL-WCIS
更新時間：2026-07-10簡要描述：SEL 晶圓裂紋檢測儀 SEL-WCIS，昭和電氣研究所的晶圓檢測設備專題頁，主要用途是展示其利用光學與傳感器技術融合的四大核心檢測產品。適用行業為半導體制造，專門用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圓在生產過程中的裂紋、邊緣缺陷、表面劃痕及形狀精度的自動化檢測與質量控制
| 品牌 | 其他品牌 |
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公司名稱：昭和電氣研究所 (SEL)
核心優勢：擁有豐富的實驗設備和經驗，致力于通過光學技術和傳感器技術的融合，將“不可見"的缺陷“可視化"。
服務模式：除了標準設備，還提供根據客戶需求定制的OEM/ODM受托設計生產業務。
認證資質：公司已獲得 ISO9001:2015（質量管理體系）和 ISO14001:2015（環境管理體系）認證。
高精度與高速性：打破常識的低價位，同時實現高速和高檢測能力。
多缺陷同時檢測：一臺設備可同時檢測多種缺陷，提高生產效率。
廣泛的適用性：已在多家器件制造商（Device Makers）處投入使用，涵蓋硅（Si）、碳化硅（SiC）等多種晶圓品種。
定制化服務：針對客戶特定需求，提供定制化的檢測方案和產線集成。
SEL 晶圓裂紋檢測儀 SEL-WCIS，昭和電氣研究所的晶圓檢測設備專題頁，主要用途是展示其利用光學與傳感器技術融合的四大核心檢測產品。適用行業為半導體制造，專門用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圓在生產過程中的裂紋、邊緣缺陷、表面劃痕及形狀精度的自動化檢測與質量控制。
SEL 晶圓裂紋檢測儀 SEL-WCIS，昭和電氣研究所的晶圓檢測設備專題頁，主要用途是展示其利用光學與傳感器技術融合的四大核心檢測產品。適用行業為半導體制造，專門用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圓在生產過程中的裂紋、邊緣缺陷、表面劃痕及形狀精度的自動化檢測與質量控制。
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