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更新時間:2026-06-17
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半導體晶圓在加工過程中,其最終成品表面極易產生微小的異物、劃痕、拋光不均、霧狀缺陷(Haze)以及晶體滑移線(Slips)。這些缺陷在普通光照下幾乎隱形,但對芯片的性能和可靠性構成巨大威脅。傳統的目視檢查或普通光源輔助檢測,已難以滿足現代半導體工業的嚴苛標準。
在半導體后道工序中,設備的穩定性和維護成本直接影響生產線的效率。YP-250IL采用先進的LED光源技術,解決了傳統鹵素燈泡壽命短、更換頻繁的痛點。其光源壽命長達10,000小時,遠超傳統鹵素光源的30至50小時。這意味著:
極低的維護頻率:大幅減少了因更換燈泡而停機的時間,保障了生產線的連續運轉。
極低的運營成本:無需頻繁采購昂貴的鹵素燈泡,顯著降低了長期運營成本。
非常高的穩定性:LED光源的光輸出更加穩定,避免了因燈泡老化導致的亮度衰減,確保了檢測結果的一致性。
YP-250IL專為宏觀觀察設計,其技術規格體現了對工業應用的深刻理解:
大范圍照射:40mmφ的照射直徑,能夠覆蓋更大的檢測區域,提高檢測效率。
適宜的工作距離:220mm的照射距離,為檢測設備的集成和操作留出了充足的空間。
高效的散熱:采用強制風扇風冷方式,確保設備在長時間高負荷運行下依然保持穩定性能。
靈活的調節:其專用電源LPS-250支持電流調節,可根據不同檢測需求靈活調整光強。
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