在納米粉體、功能漿料、生物醫(yī)藥膠體的研發(fā)生產(chǎn)環(huán)節(jié)，普通粒度檢測設(shè)備往往難以區(qū)分樣品中微量團聚體、少量粗大雜質(zhì)顆粒，容易造成測試結(jié)果偏差，影響產(chǎn)品品質(zhì)判定。想要獲取真實、高分辨率的粒徑分布數(shù)據(jù)，離心沉降式粒度檢測是十分可靠的技術(shù)路徑。

堀場 HORIBA Partica CENTRIFUGE CN?300 離心式納米粒子解析裝置，依托比色皿式離心沉降法，可完成 10?nm?40?μm 寬范圍顆粒檢測，一臺設(shè)備兼容線啟動法、均一沉降法兩種測試模式。設(shè)備可以直接檢測原液或稀釋后的液相懸浮樣品，精準捕捉體系內(nèi)少量粗大顆粒與團聚信號，為半導體、新能源、精細化工、生物醫(yī)藥行業(yè)提供高可靠性的納米粒徑解析方案。

產(chǎn)品參數(shù)

應(yīng)用場景

1. 半導體行業(yè)：CMP 拋光液檢測，識別拋光液內(nèi)微量大顆粒雜質(zhì)、團聚顆粒，降低制程缺陷風險，用于來料檢驗與成品質(zhì)量管控。

2. 新能源行業(yè)：電池正負極材料、導電劑漿料粒度分析，分辨粉體團聚狀態(tài)，評估分散工藝優(yōu)劣，支撐配方開發(fā)。

3. 精細化工：陶瓷漿料、涂料、油墨、顏料懸浮液測試，捕捉分布尾部粗大顆粒，優(yōu)化研磨、分散工藝。

4. 生物醫(yī)藥領(lǐng)域：脂質(zhì)體、納米藥物懸浮液粒徑分布解析，評估制劑顆粒均一性，滿足研發(fā)質(zhì)控需求。

5. 納米新材料研發(fā)：各類納米粉體分散液，無需過度稀釋即可測試，獲取高分辨完整粒徑分布曲線，也可搭配 CY?301 密度梯度分餾組件，實現(xiàn)顆粒按密度分級分離，開展深度組分研究。

設(shè)備具備優(yōu)秀抗干擾能力，高分辨率檢測能力可以檢出含量占比很低的異物與凝聚顆粒；同時轉(zhuǎn)子與樣品回路一體化制冷結(jié)構(gòu)，避免長時間高速離心運行帶來樣品升溫，保障長時間重復(fù)測試的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，整機運行安靜，操作流程簡便，適配實驗室研發(fā)與產(chǎn)線質(zhì)檢場景。

總結(jié)

納米材料粒徑測試難點，不在于測出平均粒徑，而在于識別微量團聚、少量粗大顆粒，還原真實粒度分布。堀場 HORIBA CN?300 離心式納米粒子解析裝置依靠離心沉降原理，突破部分粒度設(shè)備分辨率不足的痛點，覆蓋 10?nm?40?μm 區(qū)間，一機雙測試模式，適配多行業(yè)液相懸浮納米樣品，既可用于新材料研發(fā)階段配方篩選，也可以用于批量產(chǎn)品質(zhì)量檢測，為納米材料的性能評估提供可靠檢測手段。

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